国际无损检测工作组会议通知
2010年2月1日～3日 地点： Holiday Inn Atrium Singapore （新加坡）
各位好：
诚邀您参加2010年2月1日～3日在Holiday Inn Atrium Singapore举办的国际无损检测工作组会议（IWNDT）。此次会议的目的是对无损检测最新发展的交流和互动，以及无损检测最新技术的展示。
讨论的主题包括以下领域（但不局限于以下范围）：
航空航天 土木工程
计算机数据处理和模拟 建筑的保护和整修
教育，培训和认证 材料的性能和测试
工业厂房及结构 核工业
方法和仪器设备
可靠性和有效性
新加坡坐落于东部和西部的交叉处，工作组会议不仅为与会代表提供了互相交流的平台，还提供了一个独一无二的机会去探索多元文化的新加坡。
重要的日期：
摘要截止日期（300字英文） 1月7日
录取通知书 1月15日
注册截止日期 1月20日
全文截止日期 2月1日
摘要必须通过工作组的网站进行递交，所有摘要将由工作组科学委员会认真审核。
注册通过工作组网站注册。更详细的信息可以查询工作组网站www.ndtregional.org
祝好，
大会主席：W S Gan博士，新加坡声学学会主席
科学委员会主席： Brian Stephen Wong教授，新加坡无损检测学会主席
