2009年全国射线数字成像与CT新技术研讨会于7月8日在上海通用电气中国研发中心顺利召开。会议由中国体视学学会CT理论与应用分会主办，上海英华检测科技有限公司和GE（通用电气）传感与检测科技有限公司承办，同时得到了中国体视学学会CT理论与应用分会、《CT理论与应用研究》编辑部、北京航空航天大学现代无损检测中心的大力支持。
2009年全国射线数字成像与CT新技术研讨会开幕式
此次会议以“加强理论创新，推动工程应用，开创射线数字成像与CT技术的新篇章”为主题，国家计量科学研究院李兴东先生担任执行主席主持了本次会议，中国地震局地球物理研究所郭履灿老师、清华大学陈志强教授、首都师范大学张朋教授作为特邀嘉宾参与本次研讨会，参加此次研讨会的还有来自全国的逾90名专家和技术人员。借助研讨会的平台，各界专家探讨了新思想，交流了新技术，并见证了GE传感与检测科技中国CT应用中心的开幕。
与会期间，各方代表就CT新技术理论及相关应用等课题举办了21场专题报告讲座，其中四个新的研究和应用课题引起了大家的兴趣和关注。
1. 基于高精度CT的测量学（GE检测科技）
2. 双能CT （清华大学）
3. 图像质量评估和研究（北京航空航天大学）
4. 高分辨率CT用于材料检测（GE和中国公安部第一研究所）
微焦点&纳米焦CT的应用介绍（李博先生）
Phoenix|x-ray系统成像介绍（Thomas Mayer）
最后，大会评选出了6篇优秀论文，分别是：“PET/CT新技术应用”（王荣福），“动态序列DR图像降噪算法及快速实现”（王钢，杨民），“基于对称投影的2D-CT系统投影旋转中心自动确定方法”（李保磊，张耀军），“内部感兴趣区域CT精确重建算法新进展”（李亮，陈志强等），“改进的单程分裂合并分割方法在双能CT欠采样方法中的应用”（刘圆圆，张丽等），“DR成像系统点扩展函数测量与图像恢复”（黄魁东，张定华等）。
会议闭幕式上，与会人员热情称赞了本次会议技术交流的高水平和组织工作的高效率。会议为促进国内CT学术领域的科技创新和科技成果转化应用提供了交流平台，为推动国内无损检测新技术研发与高新技术领域应用奠定了坚实基础。中国CT委员会创始人郭履灿老先生即席赋诗一首，感谢GE公司以及上海英华公司对会议的支持，并祝愿我国CT事业取得更大的发展。
本届会议的承办单位GE（通用电气）传感与检测科技有限公司以及上海英华检测科技公司是无损检测行业的知名企业。GE公司自2007年收购了工业CT界的翘楚的德国菲尼克斯 X射线公司（phoenix|x-ray）以来，一直大力支持工业CT的技术革新和应用发展。借本届大会召开之际，GE传感与检测科技公司大中华区的CT应用中心正式开业，与会代表参观了该应用中心从德国引进的nanotom, vtomex, nanomex等5套纳米微米高端CT设备，这些CT设备将广泛应用到航空、航天、机械制造、测量、微生物等领域。正如GE检测科技应用中心总经理孔凡琴博士在开幕式上的致辞：该中国CT应用中心将努力创建一个开放式的沟通和交流平台，在展示GE先进工业CT技术的同时，开信息与技术共享之大门，为推动中国CT技术与设备的进步，贡献自己的力量。我们期待着与中国的CT产业产生良性互动。欢迎中国CT领域的各位专家学者经常来中国CT应用中心指导和做客，期待着与国内工业CT专家更广泛的合作。
GE传感与检测科技中国CT应用中心开幕式
